取得ST評価委員会:MOSFETドライバー評価委員会,IGBTドライバー評価委員会
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リサイクル 詳細:
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評価委員会の核心価値:理論と実践を結びつける
ドライバ評価ボードは,チップメーカーまたは第三者が特定のドライバICのために設計した専門試験回路ボードです.エンジニアのための高性能テストプラットフォーム.
主要な機能は以下のとおりです.
急速なプロトタイプ検証: 評価ボードには,通常,ゲートレジスタ,バイパスコンデンサ,隔離された電源エンジニアはPCBをゼロから設計することなく,スイッチ周波数,信号遅延,駆動電流を含む基本的なドライバ機能と重要なパラメータを検証できます.
性能の深層評価: 機内での広範なテストポイントを通じて,エンジニアは,振動鏡,探査機,その他のツールを使用して,駆動波形,上昇/低下時間,死時間,保護機能の反応 (e)(例えば,デサチューレーション DESAT,ミラー・クランプ) リアルロード条件での性能を評価するために.
システム互換性試験:多くの評価ボードは,TO-220またはTO-247パッケージで外部MOSFET,IGBT,またはSiCモジュールに接続することを可能にする柔軟な設計を備えています.この 装置 は,エンジニア が 選択 し た 電源 スイッチ に 配合 さ れ た 時,ドライバー の 性能 を 直接 評価 する こと に なり ますシステムレベルの互換性と安定性を検証する.
適合性予備試験:評価ボード自体は,通常,強力な電磁互換性 (EMC) と熱設計仕様を遵守します.設計図とPCBレイアウトが使用者の最終製品設計の基準点として予備試験のための評価ボードの使用は,潜在的な信号完整性および熱管理問題を特定するのに役立ちます.公式の安全と規制認証の達成のための基礎を設ける (e.g, UL, IEC) について説明します.
運転手評価委員会申請の焦点
現在,高エネルギー効率,高電力密度,高信頼性はパワー電子機器市場の主要な推進力です.STのドライバーと評価ボードの製品ラインは,明らかにこれらの傾向に対応しています:
高エネルギー効率と広帯域半導体サポート:シリコンカービッド (SiC) MOSFET がより普及するにつれて,スイッチ周波数とゲートドライブ要件が増加します.例えば,STGAP3SXSドライバは,SiC装置向けに最適化された低電圧ロックアウト (UVLO) とデサチューレーション保護の限界値を有している.対応する評価ボードは 10A のシンク/ソース能力を提供し,免疫力を高めるために負電圧シャットダウンをサポートします.
高電力密度とシステム統合:スペースが限られたアプリケーションに対応するために,STは高度に統合されたソリューションを提供しています.例えば,PWD5T60は3相ゲートドライバーを統合し,6つのMOSFETEVLPWD-FAN-PUMP評価ボードは,離散ソリューションと比較して70%ものPCBスペースを節約します.特にコンパクトファンとポンプに適している.
高度な信頼性と機能安全性: 堅牢な保護機能は,特に工業および自動車アプリケーションなどの要求の高い分野において不可欠です.STGAP 単一のドライバーの評価ボード,EVALSTGAP2SACとEVLSTGAP3SXS-Hなどの先進的な保護メカニズムを強調し,ミラークランプ (意図せざる伝導を防止する),不飽和性保護 (過電源保護),低電圧ロック (UVLO)これらの機能は,電気自動車のオンボード充電器 (OBC) や工業インバーターなどのアプリケーションの安全な動作を確保するために不可欠です.
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